根據(jù)現(xiàn)在全球市場(chǎng)來(lái)說(shuō)，離子遷移測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展需要符合現(xiàn)如今省能源、鉛/無(wú)鹵素、小型輕量、低價(jià)格、高信賴(lài)等要求來(lái)發(fā)展，也正是在這樣的情況下，離子遷移測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展也需要獲得重新的評(píng)估。

  離子遷移測(cè)試系統(tǒng)是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS VOLTAGE),經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1～1000小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生(ION MIGRATION),并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是OPEN/SHORT試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)(ION MIGRATION TESTING)。

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